简 介：摘要：本文测试了AOD2544 MOS管搭建的高频半桥电路，验证了PCB布线结构对电路稳定性的关键影响。在栅极电阻为0欧姆的情况下，电路仍能稳定工作，未出现二次导通现象。相比之前测试的ASDM表贴MOS管，AOD2544表现更优，说明高频电路的稳定性主要取决于线路铺设拓扑而非器件参数。相关测试结果和波形分析表明，优化PCB走线设计能有效提升高频半桥电路的可靠性。
关键词：AOD2544，高速半桥
AOD2544搭建高速半桥
- 测试ASDM60R042NQ-R高速半桥电路
- 重新测试小型封装的MOS管高频半桥：ASDM40N40E
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01测试AOD2544 MOS半桥
一、背景
刚才测试了利用表贴功率 MOS 管搭建的高频便桥电路的工作稳定性。 在 MOS 管栅极串联 0 欧姆的情况下， 电路依然能够稳定工作。 现在怀疑是铺设的 PCB 布线拓扑结构比较好， 使得电路工作稳定。 下面， 再重新将 MOS 管更换为 AOD2544 高频管， 它不是表贴的， 体积比较大。 按照现在的布线结构进行电路设计， 查看是否电路依然能够稳定工作。
二、电路设计
在之前的电路基础上设计测试电路。 其中两个 MOS 管栅极串联电阻在实际焊接的时候使用 0 欧姆电阻替代。 MOS 管更换成 AOD2544， 这是两个带有管脚的表贴 MOS 管。 之前在设计的电路中对他进行测试过， 如果栅极电阻为 0 欧姆。 在现在的驱动芯片驱动下， 整个电路会产生震荡， 下管会产生二次导通。 只有将栅极电阻修改为 10欧姆， 电路才能够稳定。
下面铺设电路的 PCB， 采用和前面铺设电路相同的拓扑结构铺设测试电路板。 验证在这种 PCB 绘制走线的情况下， 电路是否能够稳定工作。 一分钟之后得到了测试电路， 清洗之后进行测试。
三、测试结果
下面使用绝缘探针观察电路中 MOS 管的栅极驱动信号。 示波器探头设置为 X10 档位， 减小示波器探头输入电容对于电路测量影响。 可以看到， 下桥臂 MOS 管栅极电压波形， 整个电路工作稳定， 下桥臂没有出现二次导通。 上桥臂波形也非常完整， 通过观察应该比前面测试的 ASDM 表贴 MOS管表现还好。
※总结 ※
本文重新测试了 AOD2544 MOS 管搭建的半桥电路。 发现，虽然这个MOS管管脚比较大， 但是采用了现在这个半桥 PCB 线路结构， 所搭建的测试电路工作非常稳定。 栅极电阻只需要设置为 0欧姆。 整个电路工作正常。 由此也验证了， 对于高频电路， 线路铺设走线对于线路的稳定性影响 比线路中器件的参数更大。
■ 相关文献链接:
- 测试ASDM60R042NQ-R高速半桥电路-CSDN博客
- 重新测试小型封装的MOS管高频半桥：ASDM40N40E-CSDN博客
